информационный ресурс
Способ контроля дефектности, толщины, электрических и магнитных свойств объекта из электропроводящего материала
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля качества объектов из электропроводящих материалов и измерения мгновенных распределений магнитных полей.
Задачей изобретения является повышение точности контроля электрических и магнитных свойств, параметров дефектов и толщины объектов из электропроводящих материалов, а также повышение точности измерения мгновенных распределений магнитных полей.
Поставленная задача достигается тем, что в способе контроля дефектности, толщины, электрических и магнитных свойств объекта из электропроводящего материала, в котором на поверхность контролируемого объекта, размещенную параллельно оси линейного индуктора, устанавливают дискретный магнитный носитель с чередующимися магнитными и немагнитными участками, воздействуют на объект серией последовательных одиночных импульсов магнитного поля попеременно прямой и обратной полярности с разными временами нарастания и убывающей амплитудой, сканируют носитель считывающим устройством вдоль выбранных линий замера, получают семейство зависимостей 11(1) электрического напряжения II на выходе считывающего устройства от времени 1 считывания, преобразуют все полученные зависимости 11(1) в зависимости 1Дх) электрического напряжения V от расстояния х между точкой считывания и проекцией оси линейного индуктора на магнитный носитель, формируют на основе зависимостей 11(х) соответствующие растровые изображения распределения магнитного поля по поверхности объекта, преобразуют их в дискретные оптические фотоизображения, строят огибающие представленных на этих изображениях дискретных зависимостей 1Дх), формируют оптические изображения построенных огибающих путем окрашивания полученных на изображениях фигур, накладывают окрашенные изображения на соответствующие изображения заданного эталонного объекта, выполненные в одном масштабе с ними, находят разностные оптические изображения путем попиксельного вычитания эталонного и анализируемого изображений в каждой их паре и поворачивают их на экране на оптимальные для рассмотрения углы, а затем определяют искомые свойства объекта путем сравнения указанных разностных изображений с такими же изображениями, полученными заранее при тех же условиях для множества эталонных объектов с различными известными свойствами, при этом при указанном вычитании уровни цветности либо оттенков серого окрашенных изображений контролируемого и эталонного объекта задают одинаковыми, а для привязки искомых свойств контролируемого объекта к его поверхности получают фотографическое изображение указанной поверхности, с которым затем попиксельно совмещают наложенные на него соответствующие разностные изображения.
Неисключительная лицензия на право использования патента Республики Беларусь № 21362 «Способ контроля дефектности, толщины, электрических и магнитных свойств объекта из электропроводящего материала». Заключение лицензионного договора о предоставлении права использования или договора уступки прав на изобретение.
G 01N 27/72
Измерение; испытание
21362
Патент/свидетельство/др. РБ
Email: ResDiv@bntu.by
Телефон: 8-017-296-66-86, 8-017-292-74-12. Факс: 8-017-331-36-17
Дополнительно: 220013, г. Минск, пр-т Независимости, 65
Портал функционирует в режиме тестовой эксплуатации. Предложения по улучшению работы Вы можете направить на birzha@ncip.by.
Портал функционирует в
режиме тестовой эксплуатации.
Предложения по улучшению работы
Вы можете направить на
birzha@ncip.by.